Opis
Miernik do pomiaru grubości powłok Leptoskop®Wykonanie: uniwersalny przyrząd służący do pomiaru grubości warstw z sondą zewnętrzną, precyzyjnatechnika pomiarowa i możliwość szybkiego rozbudowania urządzenia na miejscu za pomocąkodów aktywizacyjnych (tryb oprogramowania „Statystyka“ i „Pamięć danych“). Duży,podświetlany wyświetlacz graficzny (48 x 24 mm), duży wybór sond. Zakres pomiaru 0–20000µm (zależny od sondy), 10 wersji językowych, interfejs USB/RS 232 i ochronna ramka gumowa.Okres eksploatacji baterii ok. 100 godzin. Dostawa z sondą Fe do 5000 µm, korpuskontrolny, zestaw folii do kalibrowania, instrukcja obsługi, protokół odbioru/certyfikatkontroli jakości, protokół pomiarowy, literatura fachowa i 2 baterie AA/LR06, 1,5 V, wwalizce z tworzywa sztucznego. Niepewność pomiarowa (po kalibracji): Grubość warstwy 100 µm: 1–3 % wartości pomiarowej ± 1 µm Grubość warstwy > 1000 µm: 3–5 % wartości pomiarowej ± 10 µm Grubość warstwy > 10000 µm: 5 % wartości pomiarowej ± 100 µm Zastosowanie: określa grubość warstw niemagnetycznych na podkładach nadających się do magnetyzowania(metale żelazne, wg DIN EN ISO 2178) i grubość powłok nieprzewodzących na podkładachprzewodzących metodą prądów wirowych (metale nieżelazne, wg DIN EN ISO 2360).
